XPS研究热处理对浮法玻璃和Low-E玻璃表面组成的影响
上官旻杰1,赵青南1,2,林鸿剑1,董玉红2,赵 杰2
(1.武汉理工大学硅酸盐建筑材料国家重点实验室,武汉 430070;
2.江苏秀强玻璃工艺股份有限公司,宿迁 223800)
摘要:采用X射线光电子能谱(XPS)研究了不同热处理后浮法玻璃和单银Low-E玻璃的表面化学组成。结果表明,钢化、真空退火、钢化+真空退火都能增加浮法玻璃中Na+向表面扩散,真空退火能使表面富集的Na挥发;热处理或真空退火能使未镀膜面的Na挥发到膜面。真空退火和先钢化再真空退火处理样品表面锡的相对含量高于钢化处理样品。钢化与真空退火使Low-E镀膜玻璃的表面层Si和SiNx复合膜层氧化,形成SiNxOy和SiOx复合膜层中,能提高Low-E玻璃的可见光透过率。
该篇文章刊登在《建筑玻璃与工业玻璃》2022年第10期
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