公开（公告）号：CN104730217B
公开（公告）日：2016.09.07
申请（专利权）人：京东方科技集团股份有限公司、鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 

    本发明公开了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，玻璃基板上包括多个显示面板，显示方法包括：根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，这样针对玻璃基板上的多个显示面板的不良缺陷分布情况生成对应的不良缺陷聚集分布图，通过观测生成的不良缺陷聚集分布图，精确观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，这样可以供不良分析人员参考查看，分析获得显示产品生产过程中出现的不良情况，及时解决工艺生产中存在的问题，进一步优化生产工艺，降低生产成本，降低量产风险。


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